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    簡單介紹

    燒機測試系統Model58601,致茂58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU,溫度控制與可符合不同光電半導體??晒┌l光二極體,雷射半導體,光電偵測器與其他半導體使用。 每個模組*高可測試80組獨立SMU,可提供待測物電流與偏壓并量測之。

    燒機測試系統的詳細介紹
     
    主要特色:
    Ø         適用于燒機與老化測試
    Ø         *多達800通道同時測試
    Ø         *高達40 安培電流輸出
    Ø         *高達150度 溫度控制
    Ø         操作員利用Carrier放置待測物
    Ø         Change Kit 設計供測試種類不同待測物
     
    詳情:
    燒機-可靠度&老化測試 
    致茂58601是ㄧ提供高密度高精度多通道SMU,溫度控制與可符合不同光電半導體??晒┌l光二極體,雷射半導體,光電偵測器與其他半導體使用。 每個模組*高可測試80組獨立SMU,可提供待測物電流與偏壓并量測之。
    電流源 
    Ø         每片獨立的電流電壓卡SMU可提供五種不同的電流等級,由5Amp 到20 與40Amp. 獨立的電壓量測可供高串聯數的待測物測試于高電壓等級. 多組的電流源也可藉由并聯形式提高電流的輸出能力。
    Ø         高彈性化設計 
    致茂使Conversion Kit由半導體轉換到光電半導體使用。應用Conversion Kit于58601燒機測試可以擁有以下的優點:
    • 高密度通道
    • 高電流輸出
    • 光電流監控
    • 監控量測光電半導體
    • 暗電流量測
    • 提供偏壓
    • 獨立電壓量測
    • Bypass of Failing Devices
    • 符合各種雷射光電半導體
    高效率運作
    • 提供高溫控制,降低老化時間與較少的通道,同時可降低成本,提供快速結果
    • 高密度設計降低使用空間,優于其他設計
    • 通過制造商進行批量測試,Carriers可用于燒機測試與特性測試,軟體可主動追蹤資料于燒機與特性測試
    • 在利用Change kit 的設計,在相同基礎設備下可快速切換供不同種待測物使用,待測物降低成本
    • 精細的probing 方式可提供次系統與高單價包裝待測物
    • 熱插拔電源模組降低故障機率于MTBF/MTTR測試
     
     
    選購附件:
    Model
    Description
    58601
    光電激光半導體燒機測試系統
     
     
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    咨詢電話:021-530842187 -111  
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